(PresseBox) - Der Messplatz MarSurf UD 130 erfasst Kontur und Rauheit von Werkstücken in nur einer Messung und Aufspannung. Damit steigert er deutlich die Effizienz bei der Qualitätssicherung. Das hochpräzise Messsystem meistert dafür gleich zwei Aufgaben: Es realisiert den großen Messhub für die Kontur in Radien, an Schrägen oder in Freiformflächen genauso wie die Auflösung im Nanometer-Bereich für die Rautiefenmessung. Nach nur einer Messung haben Nutzer so alle Ergebnisse der Rauheits- und Konturanalyse verfügbar - und mehr Zeit für andere Aufgaben. Dafür ist bei dem Messplatz modernste Technologie für kleine Toleranzen im Einsatz. Sie ermöglicht eine hohe, gleichbleibende Genauigkeit über einen großen Messbereich mit sehr hoher Auflösung.
Der Applikationsspezialist Mahr löst mit dem neuen MarSurf UD 130 das erfolgreiche MarSurf UD 120 ab und schließt die Produktlücke zwischen dem MarSurf LD130 und dem Rauheits- und Konturensystem MarSurf XCR20 mit zwei Vorschubgeräten. Bei dem neuen Messgerät konnten die technischen Daten deutlich verbessert werden. Das schnelle Messen von 5 mm/s und die Positioniergeschwindigkeit von bis 30 mm/s minimieren die Messzeiten um ein Vielfaches und machen die Qualitätssicherung wirtschaftlicher. Für die verschiedenen Messaufgaben stehen unterschiedliche Tastarm- und Tastspitzengeometrien zur Verfügung. Je nach Aufgabenstellung kommen Diamantspitzen mit 2?m- bzw. 5µm-Radius für Rauheitsmessungen, Hartmetallspitzen mit 25?m oder Rubinkugeln für Konturmessungen zum Einsatz. Das bionische Design der Tastarme und neue Materialien sorgen für höhere Steifigkeit, geringeres Schwingverhalten und höhere Dynamik.
Dank der innovativen magnetisch gehaltene Tastarme, die durch einen Chip im Tastarm sicher erkannt werden und der optionalen Tastarmwechseleinrichtung, die das vollautomatische Tauschen der Tastarme ermöglicht, ist das System für vollautomatische Messungen bestens geeignet. Durch diese Automatisierung werden Messungen frei vom Einfluss des Bedieners und haben eine höhere Messsicherheit.