PresseKat - Standard opto-isolierte Multi-I/O-Karte für Messungen in Maschinen und Anlagen

Standard opto-isolierte Multi-I/O-Karte für Messungen in Maschinen und Anlagen

ID: 1410092

(PresseBox) - Mit der ME-4660i für den PCI-, PCIe oder cPCI-Bus in industriellen Rechnersystemen bietet AMC eine bewährte Multi-I/O-Karte mit schnellen und präzisen 16 Bit Analog-Eingängen an.
Die Einsatzbereiche reichen von der Mess- und Prüftechnik bis hin zur Steuerungsanbindung in der Automatisierungstechnik mittels optisch-isolierten 24V digitalen Ein-und Ausgangskanälen. Das Modell ME-4660i ist die Universalkarte mit 16SE Analog-Eingangskanälen, 16Bit Auflösung und einer max. Abtastrate von 500kS/s sowie mit optischen-isolierten digitalen Ein-und Ausgängen, inkl. 2 analogen Ausgängen.
Technische Parameter der ME 4660i Multi-I/O-Karte: 
  
16 single-ended Analog-Eingänge (Messbereiche: ±10 V, ±2,5 V, 0...+10 V, 0...+2,5 V)
Hochpräzise 16 bit/max. 500 kHz A/D-Wandlung bei PCI- und cPCI-Bus (Ausnahmen als PCIe-Version: 250kHz A/D-Wandlung), Externer Digital-Trigger
2 analoge Spannungs-Ausgänge (Bereich ±10 V mit 16 bit D/A-Wandlung), Externer Digital-Trigger
32 Digital-I/O-Kanäle als 8 Opto-Eingänge, 8 Opto-Ausgänge und 2x 8 TTL Ein-/Ausgänge
3x 16 bit Zähler
Modell "i": A/D-, D/A-Teil, Zähler- und 16 der Digital-Leitungen opto-isoliert bis 500 V
PC-Messkarte als PCI-, PCI-Express oder 3 HE CompactPCI/PXI erhältlich
Zum Lieferumfang der Messkarte gehört ein deutschsprachiges Handbuch als PDF-Datei sowie die Treibersoftware ME-iDS und die Treiber für die aktuellen Betriebssysteme Windows 10, 8.1, 7 (32 und 64 Bit), Vista und XP. Weiterhin stehen umfangreiche Treiberbeispiele für die gängigen Entwicklungssoftwarepakte C/C++, C#(.NET), Visual Basic(.NET), Delphi und NI LabVIEW bereit.
Gerne können wir die Messkarten in einen Industrierechner integrieren und Ihnen ein individuelles Mess- und Prüfsystem zusammenstellen. Nehmen Sie Kontakt mit uns auf und lassen Sie sich noch heute von AMC ein Angebot für Ihre Anforderungen erstellen!





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Datum: 10.10.2016 - 10:00 Uhr
Sprache: Deutsch
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Chemnitz



Kategorie:

Forschung und Entwicklung



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