Suche   Â
Control 2017 - YXLON setzt den Fokus auf Metrologie
ID: 1489250
(PresseBox) - Der diesjährige Messeauftritt von YXLON wird sich in erster Linie um das Thema Metrologie mit Computertomografie drehen. So wird als Hauptattraktion eine neue Version der CT-Systeme YXLON FF20 CT und YXLON FF35 CT vorgestellt, die gezielt Messtechniker anspricht.
Der Vorteil von CT-Systemen in der Messtechnik ist, dass im Gegensatz zu optischen und taktilen Verfahren auch innere Strukturen und Materialgrenzflächen hochgenau gemessen werden können. Das vollautomatische, normgerechte Annahmeverfahren nach VDI/VDE 2630-1.3 gewährleistet die Rückführbarkeit des Systems: die Messabweichungen vom kalibrierten YXLON-Normprüfkörper werden automatisch ermittelt und dokumentiert. Auf dem Gesundheitsmonitor wird neben dem Status der Systemkomponenten auch farblich die Messbereitschaft signalisiert. Die verwendete Präzisionsmechanik mit granitbasiertem Manipulator, die Längenmaßstäbe und das Winkelmessmodul am Drehtisch erfüllen höchste Ansprüche an die Genauigkeit. Auch die Temperaturstabilisierung im Prüfraum des CT-Systems wurde für den Einsatz in der Messtechnik optimiert: so befindet sich der Kühler außerhalb der Kabine und kann bei Bedarf auch in einen separaten Raum ausgelagert werden. Im Prüfraum wird der Temperaturbereich der Messraumklasse 3 erreicht und somit der Einfluss von Materialausdehnung minimiert.
Neben weiteren Verbesserungen der grafischen Oberfläche für die Touch-Bedienung ist die komfortable und sehr schnell ausführbare ?Ein-Schicht-Rekonstruktion? ein großer Gewinn. Hiermit lassen sich Korrekturen und Einstellungen in kürzester Zeit an einer einzeln rekonstruierten Schicht überprüfen und optimieren. Im Anschluss bietet der vollständige Datensatz mit hochgenauen Oberflächen unbegrenzte Mess-Möglichkeiten aufgrund der komplett erfassten, nahezu unendlichen Messpunktedichte. Dafür werden weitere Softwarepakete derart unterstützt, dass nach dem CT-Scan automatisch das 3D-Volumen geladen sowie ein Mess-Makro ausgeführt werden kann.
Aber auch die YXLON MU2000-D kommt mit ihrer CT-Option auf der Messe zum Einsatz. Das universelle Röntgensystem ist seit 1997 erfolgreich im Markt und mittlerweile 600-mal verkauft. Es wurde im Laufe der Jahre kontinuierlich mit den letzten Entwicklungen im Bereich der Röntgen- und CT-Technologie aufgerüstet und damit auf dem aktuellen Stand der Technik gehalten. Die neuen Features und Möglichkeiten des Systems werden ebenfalls auf der Control präsentiert. Und auch das Mikrofokussystem YXLON Cheetah, das vorzugsweise im Elektronikbereich eingesetzt wird, hat auf dem Stand seinen Platz.
  
  
  
Datum: 09.05.2017 - 15:44 Uhr
Sprache: Deutsch
News-ID 1489250
Anzahl Zeichen: 2634
Kontakt-Informationen:
Stadt:
Hamburg
Kategorie:
Industrie
Diese Pressemitteilung wurde bisher 0 mal aufgerufen.
Die Pressemitteilung mit dem Titel:
"Control 2017 - YXLON setzt den Fokus auf Metrologie"
steht unter der journalistisch-redaktionellen Verantwortung von
YXLON International GmbH (Nachricht senden)
Beachten Sie bitte die weiteren Informationen zum Haftungsauschluß (gemäß TMG - TeleMedianGesetz) und dem Datenschutz (gemäß der DSGVO).