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Darf es ein bisschen mehr sein? - FRT kombiniert konfokale und interferometrische Messtechnik in einem Gerät
ID: 152428
(firmenpresse) - Bergisch Gladbach - „Dual Technology“, kurz DT, steht auf dem neuen MicroSpy Topo von Fries Research & Technology (FRT). Diese zwei Buchstaben signalisieren die besondere Stärke des vielseitigen Oberflächenmessgeräts: die Kombination eines Spinning-Disc Konfokalmikroskops mit einem Weisslicht-Interferometer. Damit lassen sich sowohl minimal als auch stärker strukturierte Proben berührungslos, zerstörungsfrei und binnen weniger Sekunden mit Mikro- und Nanometerauflösung vermessen. Konzipiert wurde das optische Messgerät für Anwender in der Forschung und Produktentwicklung sowie der begleitenden Produktionskontrolle zum Beispiel zur Messung von Rauheit, Kontur und 3D-Topographie.
Weisslicht-Interferometrie für unterschiedlichste Probenoberflächen
Minimal strukturierte Probenoberflächen wie Linsen, Glas oder Wafer misst das Weisslicht-Interferometer im Phase-Shift-Modus. Die 3D-Topographie wird dabei typischerweise mit Sub-Nanometer-Auflösung in weniger als 10 Sekunden in einem Bildfeld von bis zu 7,1 mm x 5,3 mm großflächig erfasst. Die generierte Topographie ist Ausgangspunkt für weitere hochpräzise Geometrie-, Rauheits- oder Ebenheitsanalysen am Messcomputer. Im Mirau-Modus wird im Gegensatz zur Phase-Shift-Interferometrie der maximale Interferenzkontrast einer Fokusebene ausgewertet, sodass auch stärker strukturierte Oberflächenstrukturen zuverlässig in 3D gemessen werden. In beiden Modi überzeugt die variable Messfeldgröße ohne Auflösungsverlust sowie die hohe Messgeschwindigkeit.
Große Objektivauswahl für konfokale Messungen
Ein hohes Maß an Flexibilität bietet das integrierte Konfokalmikroskop, da hier die verschiedensten, für die Lichtmikroskopie entwickelten Objektive eingesetzt werden können. Ein Beispiel dafür sind die optional erhältlichen Long-Distance-Objektive für große Arbeitsabstände.
Durchdachtes Gesamtkonzept
Dank seines Objektivrevolvers ist der MicroSpy Topo DT in der Lage, gleichzeitig bis zu sechs verschiedene Objektive aufzunehmen, die durch einfaches Drehen schnell gewechselt werden können. Die Positionierung der Proben erfolgt per motorisiertem Verfahrtisch und CCD-Kamera. Das kompakte Single-Sensor-System aus dem Hause FRT ist auf einer hochwertigen Granitbasis aufgebaut, wodurch maximale Systemstabilität und metrologisch rückführbare Ergebnisse ermöglicht werden.
Themen in dieser Pressemitteilung:
Unternehmensinformation / Kurzprofil:
Fries Research & Technology GmbH – das Maß für Präzision
Das Bergisch Gladbacher Unternehmen Fries Research & Technology GmbH (FRT) bietet Oberflächenmesstechnik von der Forschung bis zur Produktionskontrolle. Die innovativen Geräte vermessen berührungslos und zerstörungsfrei Topographie, Struktur, Stufenhöhe, Rauheit, Verschleiß, Schichtdicke etc. für Unternehmen aus den Branchen Automotive, Halbleiter, Mikrosystemtechnik, Optik, Solar/Photovoltaik und vielen anderen.
Das Unternehmen unterhält Tochtergesellschaften in den USA, China und der Schweiz, ein Vertriebs- und Servicenetz in den USA, Asien und Europa sowie eine Niederlassung in München. Zum Kundenkreis zählen namhafte Unternehmen wie Bayer, Bosch, Daimler oder Infineon.
Jens Bonerz
FRT Fries Research & Technology GmbH
Friedrich-Ebert-Straße
51429 Bergisch Gladbach
Tel.: 02204 842430
E-Mail: bonerz(at)frt-gmbh.com
www.frt-gmbh.com
Dr. Oliver Schillings
Alpha & Omega PR
Am Mühlenberg 47
51465 Bergisch Gladbach
Tel.: 02202 959002
o.schillings(at)aopr.de
www.aopr.de
  
  
  
Datum: 14.01.2010 - 16:01 Uhr
Sprache: Deutsch
News-ID 152428
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Kontakt-Informationen:
Stadt:
Bergisch Gladbach
Kategorie:
Wirtschaft (allg.)
Meldungsart: Unternehmensinformation
Versandart: Veröffentlichung
Freigabedatum: 14.01.2010
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