PresseKat - EANS-News: PVA TePla AG stärkt Halbleiter-Aktivitäten - Übernahme der Munich Metrology GmbH

EANS-News: PVA TePla AG stärkt Halbleiter-Aktivitäten - Übernahme der Munich
Metrology GmbH

ID: 675119

(ots) - --------------------------------------------------------------------------------
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Fusion/Ãœbernahme/Beteiligung

Wettenberg (euro adhoc) - (Wettenberg, 06.07.2012) - Die PVA TePla
AG, Wettenberg, ein Hersteller von Anlagen für die Kristallisation
von Silizium sowie von Vakuum- und Hochtemperaturanlagen, stärkt mit
der Übernahme der Munich Metrology GmbH, München, ihre Kompetenz auf
dem Gebiet der analytischen Systeme für die Halbleiterindustrie.

Die PVA TePla AG übernimmt zum 6. Juli 2012 die Munich Metrology
GmbH. Das Unternehmen, ursprünglich hervorgegangen aus der GeMeTec
mbH, entwickelt und vertreibt weltweit innovative Analysesysteme zur
Bestimmung der Oberflächenverunreinigungen auf Wafern für die
Halbleiterindustrie. Insbesondere metallische Verunreinigungen können
mittels der bei Munich Metrology entwickelten VPD
(Vapour-Phase-Decomposition)-Technologie mit einer äußerst hohen
Empfindlichkeit und Reproduzierbarkeit erfasst werden.
Vollautomatisierte Systeme, die die VPD-Technologie in Kombination
mit massenspektroskopischen Analyseverfahren (ICP-MS) einsetzen,
genügen bezüglich der Bestimmung des Kontaminationsgrades von Wafern
und Mikroelektronik-Bauelementen allerhöchsten Ansprüchen auch
zukünftiger Entwicklungen.

Mit der Übernahme der Munich Metrology GmbH, die im Geschäftsjahr
2011 ein Umsatzvolumen im niedrigen einstelligen Millionenbereich
realisiert hat, baut die PVA TePla AG ihre technologische Kompetenz
im Bereich der Wafer-Analytik (Metrologie) konsequent aus und stärkt
die bestehenden Metrologie-Aktivitäten im Geschäftsbereich
Semiconductor Systems. Neben den Ultraschallmikroskopen der PVA TePla




Analytical Systems GmbH und Monitoring-Systemen für Scherspannungen
des Produktbereiches Plasma Systems verfügt die PVA TePla AG nun über
ein drittes Standbein im Bereich der 'high-end' Analytik für Wafer
bis zu 450mm Durchmesser. "Es ist erklärtes Ziel unserer Strategie
für den Geschäftsbereich Semiconductor Systems, komplementäre
Technologien aufzubauen und damit der Halbleiterindustrie ein
breiteres Produktspektrum und weitere, innovative Lösungen
anzubieten", erläutert Dr. Arno Knebelkamp, Vorstandsvorsitzender der
PVA TePla AG.

Die Munich Metrology hat sich mit ihren 14 Mitarbeitern und den
Tochtergesellschaften in Hsinchu, Taiwan und in Sacramento, CA, USA
in den letzten Jahren positiv entwickelt und wird durch die
Einbindung in die PVA TePla AG zusätzliche Umsatz- und
Ergebnisbeiträge realisieren können. Darüberhinaus bedeuten Synergien
in der Technologieentwicklung und die Integration in das weltweite
Vertriebs- und Servicenetzwerk der PVA TePla AG klare Vorteile für
den Kunden und damit zusätzliche Wachstumsimpulse. Dr. Walter Böhme,
Geschäftsführer der Munich Metrology GmbH ergänzt: "Wir sind
überzeugt davon, mit der PVA TePla AG den idealen Partner zur
Weiterent-wicklung der Munich Metrology gefunden zu haben".

Ãœber den Kaufpreis haben beide Unternehmen Stillschweigen vereinbart.

Rückfragehinweis:
Dr. Gert Fisahn
Tel.: +49 641 68690-400
E-Mail: gert.fisahn(at)pvatepla.com

Ende der Mitteilung euro adhoc
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Unternehmen: PVA TePla AG
Im Westpark 10-12
D-35435 Wettenberg
Telefon: +49(0)641 68690-0
FAX: +49(0)641 68690-800
Email: ir(at)pvatepla.com
WWW: http://www.pvatepla.com
Branche: Misc. Industrials
ISIN: DE0007461006
Indizes: CDAX
Börsen: Freiverkehr: Hannover, Berlin, München, Hamburg, Düsseldorf,
Stuttgart, Regulierter Markt/Prime Standard: Frankfurt
Sprache: Deutsch


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Datum: 06.07.2012 - 08:11 Uhr
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