Suche   Â
Einladung zum Seminar “Ellipsometrie und Reflectometrie zur Charakterisierung dünner Schichten 2015
ID: 1213282
Gerne laden wir Sie auch in diesem Jahr zu unserem Seminar „Ellipsometrie und Reflektomerie zur Charakterisierung dünner Schichten“.
(firmenpresse) - Veranstaltungsort: Commundo-Tagungshotel Stuttgart / Universitätscampus in Stuttgart am Donnerstag, den 18. Juni 2015 ein.
Wir präsentieren Ihnen ein anwendungsorientiertes Seminar mit kompetenten Referenten.
Aktuelle Themen, wie die Charakterisierung strukturierter Oberflächen, Messung an PERC Solarzellen, Prozesskontrolle von Beschichtungen stehen im Vordergrund.
Bitte downloaden Sie hier das Seminarprogramm und das Anmeldeformblatt.
Nach der Anmeldung schicken wir Ihnen die Anmeldungsbestätigung sowie die Anfahrtsskizze.
Falls Sie eine Übernachtung benötigen organisieren wir gerne eine Übernachtung im Veranstaltungshotel. Wir freuen uns, Sie auf unserem Dünnschichtmesstechnikseminar im Commundo-Tagungshotel in Stuttgart begrüßen zu dürfen. Die Teilnahmegebühr beträgt 180,00 € incl. MwSt. Bitte übersenden Sie uns Ihre Anmeldeunterlagen umgehend, da die Teilnehmerzahl auf 30 begrenzt ist.
Themen in dieser Pressemitteilung:
Unternehmensinformation / Kurzprofil:
  
  
  
Datum: 18.05.2015 - 15:54 Uhr
Sprache: Deutsch
News-ID 1213282
Anzahl Zeichen: 1104
Kontakt-Informationen:
Stadt:
Berlin
Kategorie:
Messe und Ausstellungen
Meldungsart: Unternehmensinformation
Versandart: Veröffentlichung
Freigabedatum: 18.05.2015
Diese Pressemitteilung wurde bisher 0 mal aufgerufen.
Die Pressemitteilung mit dem Titel:
"Einladung zum Seminar “Ellipsometrie und Reflectometrie zur Charakterisierung dünner Schichten 2015"
steht unter der journalistisch-redaktionellen Verantwortung von
SENTECH Instruments GmbH (Nachricht senden)
Beachten Sie bitte die weiteren Informationen zum Haftungsauschluß (gemäß TMG - TeleMedianGesetz) und dem Datenschutz (gemäß der DSGVO).