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NEU! 10-mal schnellere Messungen im NIR
ID: 1245191
Als führender Anbieter im Bereich Ellipsometrie ist SENTECH stets bestrebt den hohen Kundenforderungen mit fortschrittlichen und innovativen Produkten zu begegnen. Das neue SENTECH FTIR Ellipsometers misst in weitem Spektralbereich, mit hoher Auflösung und exzellentes Signal-zu-Rausch Verhältnis in kürzester Zeit. Spektren werden 10-mal schneller gemessen als es gängige Monochromatorlösungen ermöglichen!
(firmenpresse) - Dies wurde möglich durch die Weiterentwicklung unserer leistungsstarken FTIR Elllipsometer der SENresearch Familie. (Ψ, Δ) Paare für mehr als 1000 Wellenlängen zwischen 240 nm und 2500 nm können jetzt in weniger als 20 s aufgenommen werden.
Neben der Verbesserung der Messgeschwindigkeit der neuen Geräte warten diese auch mit vereinfachten Spektralbereichen im UV-VIS auf. Im unteren Bereich liegen die Messgrenzen bei 190 nm mit Deuterium-Halogen Lichtquelle und MgF2 Optiken, bei 240 nm mit Deuterium Halogen Lichtquelle und Quartz Optik, sowie bei 380 nm mit Halogen Lichtquelle. Die obere Grenze der Messspektren liegt einheitlich bei 1000 nm.
Wir schicken Ihnen gern ein auf Ihre Bedürfnisse abgestimmtes Angebot zu!
Kontaktieren Sie uns noch heute!
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Unternehmensinformation / Kurzprofil:
SENTECH Instruments gehört zu den führenden Anbietern von Plasma-Prozesstechnologie Anlagen zum Beschichten sowie Ätzen und offeriert Ellipsometer zur Dünnschichtmesstechnik.
  
  
  
Datum: 31.07.2015 - 14:04 Uhr
Sprache: Deutsch
News-ID 1245191
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Kontakt-Informationen:
Ansprechpartner: Pia Romanowski
Stadt:
Berlin
Telefon: 49 30 63 92 55 20
Kategorie:
Maschinenbau
Meldungsart: bitte
Versandart: Veröffentlichung
Freigabedatum: 31.07.2015
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"NEU! 10-mal schnellere Messungen im NIR"
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